- 您現在的位置：買賣IC網 > PDF目錄371076 > MC908QL4M (Motorola, Inc.) Microcontrollers PDF資料下載
參數資料
| 型號： | MC908QL4M |
| 廠商： | Motorola, Inc. |
| 英文描述： | Microcontrollers |
| 中文描述： | 微控制器 |
| 文件頁數： | 48/222頁 |
| 文件大小： | 2861K |
| 代理商： | MC908QL4M |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁當前第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁第163頁第164頁第165頁第166頁第167頁第168頁第169頁第170頁第171頁第172頁第173頁第174頁第175頁第176頁第177頁第178頁第179頁第180頁第181頁第182頁第183頁第184頁第185頁第186頁第187頁第188頁第189頁第190頁第191頁第192頁第193頁第194頁第195頁第196頁第197頁第198頁第199頁第200頁第201頁第202頁第203頁第204頁第205頁第206頁第207頁第208頁第209頁第210頁第211頁第212頁第213頁第214頁第215頁第216頁第217頁第218頁第219頁第220頁第221頁第222頁
Analog-to-Digital Converter (ADC10) Module
MC68HC908QL4 MC68HC908QL3 MC68HC908QL2 Data Sheet, Rev. 4
48
Freescale Semiconductor
3.3.4 Sources of Error
Several sources of error exist for ADC conversions. These are discussed in the following sections.
3.3.4.1 Sampling Error
For proper conversions, the input must be sampled long enough to achieve the proper accuracy. Given
the maximum input resistance of approximately 15 k
and input capacitance of approximately 10 pF,
sampling to within
1/4
LSB
(at 10-bit resolution) can be achieved within the minimum sample window (3.5 cycles / 2 MHz
maximum ADCK frequency) provided the resistance of the external analog source (R
AS
) is kept below 10
k
. Higher source resistances or higher-accuracy sampling is possible by setting ADLSMP (to increase
the sample window to 23.5 cycles) or decreasing ADCK frequency to increase sample time.
3.3.4.2 Pin Leakage Error
Leakage on the I/O pins can cause conversion error if the external analog source resistance (R
AS
) is high.
If this error cannot be tolerated by the application, keep R
AS
lower than V
ADVIN
/ (4096*I
Leak
) for less than
1/4
LSB
leakage error (at 10-bit resolution).
3.3.4.3 Noise-Induced Errors
System noise which occurs during the sample or conversion process can affect the accuracy of the
conversion. The ADC10 accuracy numbers are guaranteed as specified only if the following conditions
are met:
There is a 0.1
μ
F low-ESR capacitor from V
REFH
to V
REFL
(if available).
There is a 0.1
μ
F low-ESR capacitor from V
DDA
to V
SSA
(if available).
If inductive isolation is used from the primary supply, an additional 1
μ
F capacitor is placed from
V
DDA
to V
SSA
(if available).
V
SSA
and V
REFL
(if available) is connected to V
SS
at a quiet point in the ground plane.
The MCU is placed in wait mode immediately after initiating the conversion (next instruction after
write to ADCSC).
There is no I/O switching, input or output, on the MCU during the conversion.
There are some situations where external system activity causes radiated or conducted noise emissions
or excessive V
DD
noise is coupled into the ADC10. In these cases, or when the MCU cannot be placed
in wait or I/O activity cannot be halted, the following recommendations may reduce the effect of noise on
the accuracy:
Place a 0.01
μ
F capacitor on the selected input channel to V
REFL
or V
SSA
(if available). This will
improve noise issues but will affect sample rate based on the external analog source resistance.
Operate the ADC10 in stop mode by setting ACLKEN, selecting the channel in ADCSC, and
executing a STOP instruction. This will reduce V
DD
noise but will increase effective conversion time
due to stop recovery.
Average the input by converting the output many times in succession and dividing the sum of the
results. Four samples are required to eliminate the effect of a 1
LSB
, one-time error.
Reduce the effect of synchronous noise by operating off the asynchronous clock (ACLKEN=1) and
averaging. Noise that is synchronous to the ADCK cannot be averaged out.
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| MC908QL4V | Microcontrollers |
| MC912DG128x | microcontroller unit 16BIT DEVICE |
| MC68HC912DG128A | microcontroller unit 16BIT DEVICE |
| MC912DG128A | microcontroller unit 16BIT DEVICE |
| MC68HC912DT128A | microcontroller unit 16BIT DEVICE |
相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
|---|---|
| MC908QL4MDT | 功能描述:IC MCU 8BIT 4K FLASH 16-TSSOP RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - 微控制器， 系列:HC08 標準包裝:250 系列:56F8xxx 核心處理器:56800E 芯體尺寸:16-位 速度:60MHz 連通性:CAN，SCI，SPI 外圍設備:POR，PWM，溫度傳感器，WDT 輸入/輸出數:21 程序存儲器容量:40KB（20K x 16） 程序存儲器類型:閃存 EEPROM 大小:- RAM 容量:6K x 16 電壓 - 電源 (Vcc/Vdd):2.25 V ~ 3.6 V 數據轉換器:A/D 6x12b 振蕩器型:內部 工作溫度:-40°C ~ 125°C 封裝/外殼:48-LQFP 包裝:托盤 配用:MC56F8323EVME-ND - BOARD EVALUATION MC56F8323 |
| MC908QL4MDTE | 功能描述:8位微控制器 -MCU NITRON LINE EPP RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 處理器系列:C8051F39x 數據總線寬度:8 bit 最大時鐘頻率:50 MHz 程序存儲器大小:16 KB 數據 RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作電源電壓:1.8 V to 3.6 V 工作溫度范圍:- 40 C to + 105 C 封裝 / 箱體:QFN-20 安裝風格:SMD/SMT |
| MC908QL4MDTE | 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述:Microcontroller |
| MC908QL4MDTER | 功能描述:8位微控制器 -MCU NITRON LINE EPP RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 處理器系列:C8051F39x 數據總線寬度:8 bit 最大時鐘頻率:50 MHz 程序存儲器大小:16 KB 數據 RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作電源電壓:1.8 V to 3.6 V 工作溫度范圍:- 40 C to + 105 C 封裝 / 箱體:QFN-20 安裝風格:SMD/SMT |
| MC908QL4MDW | 功能描述:IC MCU 8BIT 4K FLASH 16-SOIC RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - 微控制器， 系列:HC08 標準包裝:250 系列:56F8xxx 核心處理器:56800E 芯體尺寸:16-位 速度:60MHz 連通性:CAN，SCI，SPI 外圍設備:POR，PWM，溫度傳感器，WDT 輸入/輸出數:21 程序存儲器容量:40KB（20K x 16） 程序存儲器類型:閃存 EEPROM 大小:- RAM 容量:6K x 16 電壓 - 電源 (Vcc/Vdd):2.25 V ~ 3.6 V 數據轉換器:A/D 6x12b 振蕩器型:內部 工作溫度:-40°C ~ 125°C 封裝/外殼:48-LQFP 包裝:托盤 配用:MC56F8323EVME-ND - BOARD EVALUATION MC56F8323 |
發布緊急采購，3分鐘左右您將得到回復。